국내·외 특허정보를 활용해 국가 기술경쟁력을 객관적으로 측정하는 시스템이 개발됐다.

지식경제부 산하 정부 연구·개발(R&D) 지원사업 전담기관인 한국산업기술평가관리원(KEIT·원장 서영주)은 ‘특허지표를 활용한 기술수준 도출 방법 및 이를 위한 시스템’을 특허정보서비스 전문업체인 ㈜윕스(WIPS)와 공동 개발, 특허를 출원했다고 지난 6일 밝혔다.

이번에 KEIT가 특허 출원한 시스템은 우리나라와 미국, 일본, 유럽, 중국 등 세계 주요국의 특허정보를 ‘AIMS+(patent Activity, Intensity, Market-power, Strength, and Strike index)’란 평가 틀로 분석, 그 결과에 근거해 세부 기술별 국가 경쟁력을 산출할 수 있도록 한 것이다.

‘AIMS+’는 특허경쟁력 평가를 위해 KEIT가 자체 개발한 모델로, △특허활동지수(PAI; Patent Activity Index) △특허집중지수(PII; Patent Intensity Index) △특허시장력지수(PMI; Patent Market-power Index) △특허경쟁력지수(PSI; Patent Strength Index) △특허영향력지수(PSI; Patent Strike Index) 등 5개 특허지표를 기술수준 측정에 활용한다.

KEIT는 이 시스템을 적용할 경우 전문가의 정성적 평가에 의존한 직관적 설문조사 방식으로 통상 이뤄져왔던 종전 대다수 기술수준조사에서와 달리, 정량적인 특허정보를 기반으로 한 과학적이고 체계적인 기술경쟁력 분석이 가능하다고 설명했다.

KEIT는 10월 말까지 이 시스템으로 반도체와 모바일, IT융합 등 ‘14대 기술 분야’의 각국 경쟁력을 분석해 결과를 발표할 계획이다.

조일구 KEIT 정보통신기획팀장은 “특허에 담긴 방대한 기술정보를 토대로 산출되는 이번 분석 결과가 세계 기술경쟁력 지도상 우리의 좌표를 점검하고 향후 R&D 투자 방향과 전략을 설정하는 데 나침반 역할을 할 수 있을 것으로 기대한다”며 “특허가 출원된 만큼 기술수준 조사 결과뿐 아니라 조사 시스템까지 국내 유관기관 및 전문가들에게 적극 공개해 활용할 수 있도록 할 예정”이라고 말했다.